광주광역시 북구 용봉로 77 전남대학교 공과대학 6호관 717호 | ylee@jnu.ac.kr

Patents

국제특허 (International Patents)

  1. “ON-CHIP SECURITY CIRCUIT FOR DETECTING AND PROTECTING AGAINST INVASIVE ATTACKS”
    Inventors: 강성호, 이영우
    Application Number : US Patent Pending 16/877100, Filing Date : 2020.05.18
  2. “CIRCUIT FOR TESTING AND ANALYZING TSV AND METHOD OF TESTING THE SAME”
    Inventors: 강성호, 이영우
    Patent Number: US Patent 10,401,422, Issue Date: 2019.09.03

기술이전 (Technology Transfer)

  1. “메모리 수리 및 테스트 특허기술 (Memory Test and Repair)”
    Inventors: 강성호, 이영우, 장재원
    Company : EXICON, Effective Date : 2017.12.06

국내특허 (Domestic Patents)

  1. “침투 공격에 대해 검출 및 보호가 가능한 온칩 보안 회로”
    발명자: 강성호, 이영우
    등록번호: 10-2245773, 등록일자: 2020.04.22
  2. “TSV 병렬 테스트 장치 및 방법”
    발명자: 강성호, 이영우
    등록번호: 10-2075018, 등록일자: 2020.02.03
  3. “반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결정하기 위한 장치 및 방법”
    발명자: 강성호, 이영우
    등록번호 : 10-1785889, 등록일자 : 2017.09.29
  4. “TSV테스트 및 분석 회로 및 테스트 방법”
    발명자: 강성호, 이영우
    등록번호 : 10-1772808, 등록일자 : 2017.08.23